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地 址：北京市海淀区上地信息路1号国际科技创业园1—1705
主要参数：
适用于热、远红外、紫外和X射线系统的分辨率测试
产品详细说明：
R74热成像测试图采用改进的双材料结构，提供了清晰的光学USAF分辨率模式，从0.25 lpmm（-2组1）到28.51 lpmm（4组6）。适用于热、远红外、紫外和X射线系统的分辨率测试。
正面100 x100mm的黑色方形铜板上含有一个精细图案的镍中心箔。
型号 | 描述 | 图示 |
R74 | 第-2组元素 1 到第4组元素 6； 尺寸： 100mm x 100mm |
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